등록 번호

특허 번호 6805001

등록 날짜

2020 년 12 월 7 일

Shareadd

아니오

기술 개요

[문제] 정확도가 높은 손상된 금속 재료의 기준 방향을 추정합니다. [솔루션] 금속 재료가 전자 빔으로 조사되고 각 측정 지점의 결정 방향이 전자 후방 산란 회절 이미징 방법에 의해 측정되는 측정 단계 S20을 포함하여 손상되거나 파손 된 금속 재료로부터 기준 방향을 추정하기위한 기준 방향을 추정하는 방법, 결정 지점의 부분이 측정 지점의 부분을 배치 한 계산 단계 S45를 측정하는 계산 단계 S45를 측정하는 것이었다. 결정 방향이 회전하는 측정 지점과 계산 단계에서 계산 된 결정 방향의 결정 방향은 금속 재료의 기준 방향입니다.

図

제공 방법

특허 기반 제품, 당사의 서비스, 특허 사용

자세한 설명

아니오