등록 번호

특허 번호 5550034

등록 날짜

2014 년 5 월 30 일

Shareaddition

Meidensha Co., Ltd.

기술 개요

[문제] 중합체 물질의 표면에서의 잠재적 분포의 변화가 발생하기 전에 초기 단계에서 중합체 물질의 악화가 발견된다. 솔루션 : 중합체 물질의 악화는 중합체 물질의 표면에서 물리 화학적 변화의 양을 정량화함으로써 진단된다. 물리 화학적 변화량의 정량화는 중합체 물질의 표면에서 친수성 화학 종에 의해 분광 화 될 수있다. 분광 분석에는 적외선 분광법 또는 라만 분광법이 포함됩니다. 친수성 화학 종의 예는 하이드 록실기, 수소 감소 페닐기, 카르 복실기 및 황산염 이온을 포함한다. 물리적 및 화학적 변화량의 정량화는 중합체 물질의 표면의 단위 면적당 평균 표면 전위 분포를 측정함으로써 결정될 수있다. 평균 표면 전위 분포의 상기 언급 된 측정은 원자력 현미경 이미지를 사용한 측정 방법입니다.

図

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자세한 설명

아니오